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广东星拓环境试验设备科技有限公司

PCT老化试验箱
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非饱和PCT老化试验箱 APCT系列

  • 简要描述:
    PCT高压加速老化试验机广泛用于IC、半导体、PCB线路板、光伏组件等行业,通过环境应力(温湿度、压力)与工作应力加速老化试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。
  • 主要性能:

    • 型号:APCT系列  标称内容积:标箱或定制

  • 突出特点:
    不锈钢圆型内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计;采用抽屉式大容量水箱,试验时间长,并易拆卸清洗;蒸发器采用水浸查漏方法,查漏彻底,确保设备稳定运行;采用触摸屏控制器,多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示;采用触摸屏控制器;蒸发器采用水浸查漏方法,查漏彻底,确保设备稳定运行;搭载进口控制系统微电脑 P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度,带有水位不足时提供警示功

非饱和PCT老化试验箱 APCT系列

PCT高压加速老化试验机广泛用于IC、半导体、PCB线路板、光伏组件等行业,通过环境应力(温湿度、压力)与工作应力加速老化试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。

产品介绍

PCT高压加速老化试验箱(又名PCT老化试验箱)是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,主要是模拟气候环境测试产品在不同温度、湿度及压力下密封性、气密性的试验设备。其广泛应用于电子器件、汽车零配件、塑胶、线路板、IC、LCD、LED、磁铁等行业。

PCT高压加速老化试验箱最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
 
依据试验湿度饱和度可划分为:饱和高压加速老化试验箱非饱和高压加速老化试验箱
 
非饱和高压加速老化试验机试验标准及方法:
MS IEC 60068-2-66-2008  环境试验 第2-66部分-试验方法 试验Cx-稳态湿热(不饱和加压蒸汽)
 
PCT高压加速老化试验箱应用领域:
航空航天  国防军工  汽车机电  信息通讯  能源材料  行业定制
 
星拓非饱和PCT高压加速老化试验机APCT


注:支持非标定制

非饱和PCT老化试验箱 APCT系列参数

非饱和PCT老化试验箱 APCT系列参数

应用领域

  • 航空航天

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  • 国防军工

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  • 汽车机电

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  • 信息通信

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  • 能源材料

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  • 行业定制

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