一些半导体芯片由于腐蚀而造成电源线路中断，特别是在有振动的环境中，尤为严重。因此尤其需要对在船舶上或者是沿海区域所使用的半导体芯片进行盐雾试验是非常有必要的，接下来星拓环境将围绕船舶半导体芯片详细解说其盐雾试验的过程。
船舶半导体芯片盐雾试验过程
首先将试验样品进行预处理，按照规定承受弯曲应力的预处理，如果已经作为其他试验进行过，则不需要重新进行弯曲；
然后将试验样品置于循环盐雾试验箱中，设置好所需要的温湿度，调整喷雾量大小与盐雾喷出角度；
选择试验时间：试验时间a：24±2h；试验时间b：48±4h；试验时间c：96±4h；试验时间d：240±8h；一般来说试验时间需要根据用户试样的要求选择合适的，若无规定则可选取试验时间a。
船舶半导体芯片盐雾试验结果
试验结束后，如果出现以下结果，则判定为失效：
在室内正常照明下，放大1倍~3倍检查，标识模糊；
腐蚀缺陷面积超过任何封装零件（例如盖板、引线或外壳）镀层金属面积的 5%；引线缺损、断裂；放大 10～20 倍检查，完全贯穿零件的腐蚀。
以上就是船舶半导体芯片盐雾试验的过程详解以此来确定其耐腐蚀的能力。星拓环境是一家全力打造技术先进、质量过硬、服务优质、合作共赢的高新技术生产企业，多次承担大型企业事业单位的检测研发课题、为各大质检科研单位及大型企业事业单位提供一站式服务和检测试验设备，若有任何盐雾试验箱相关需求，可随时联系广东星拓环境试验设备厂家进行咨询，星拓工程团队可为您提供一对一专业的技术咨询与指导，期待与您并肩合作。
